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​研究設備

穿透式電子顯微鏡 
Transmission Electron Microscopy
(JEOL JEM-2100)
TEM.jpg
本儀器使用六硼化鑭(LaB6)晶體作為燈絲,最高操作電壓為200kV(另有180, 160, 120及80kV可供選擇)。 
可在特定模式下進行觀測:

1. TEM mode: 進行明場(Bright field)、暗場(Dark field) 
2. SAD mode: 配合選區光圈進行μm等級的繞射分析。(SAED) 
3. NBD mode: 利用微細電子束做nm等級的繞射。 
4. EDS mode: 收斂電子束為小點搭配能量散射光譜儀(EDS)可對材料做定性及半定量分析。
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